Poland – Scanning probe microscopes – Dostawa kontrolera oraz głowicy AFM dla IFJ PAN w Krakowie (DZP.260.27.2025)
Opublikowano dnia 7 listopada 2025
Tender Description
Przedmiotem zamówienia jest dostawa kontrolera oraz głowicy AFM do posiadanego przez zamawiającego mikroskopu sił atomowych (AFM) Nanowizard IV zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i fluorescencyjnym dla IFJ PAN w Krakowie. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określa załącznik nr: 1 do SWZ.
Odkryj pełne informacje o przetargu
Pełne informacje, terminy i analiza wspierana przez AI są dostępne w platformie tend.ee. Załóż darmowe konto, aby uzyskać dostęp.
Rozpoczęcie jest bezpłatne. Nie jest wymagana karta kredytowa.