Germany – Electron microscopes – Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)
Pubblicato il 2 luglio 2025
Tender Description
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop.
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