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Prilika za javni natječaj

Spain – Scanning electron microscopes – Suministro e instalación de un Equipo de Microscopía y Litografía por Electrones de bajo voltaje con Stage Interferométrico y capacidades para Metrología, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).

Tender Description

Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas.

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