Spain – Scanning electron microscopes – Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.
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Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopiade la Universidad Complutense de Madrid, financiado por la Comunidad de Madrid y cofinanciado por la Unión Europea.
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