Public Tender Opportunity

Poland – Scanning probe microscopes – Dostawa kontrolera oraz głowicy AFM dla IFJ PAN w Krakowie (DZP.260.27.2025)

Issued by INSTYTUT FIZYKI JĄDROWEJ IM. HENRYKA NIEWODNICZAŃSKIEGO POLSKIEJ AKADEMII NAUK

Published on November 7, 2025

Tender Description

Przedmiotem zamówienia jest dostawa kontrolera oraz głowicy AFM do posiadanego przez zamawiającego mikroskopu sił atomowych (AFM) Nanowizard IV zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i fluorescencyjnym dla IFJ PAN w Krakowie. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określa załącznik nr: 1 do SWZ.

Unlock Full Tender Insight

Complete details, deadlines, and AI-powered analysis are available inside the tend.ee platform. Create your free account to access.

Analyze with AI Co-pilot

It's free to get started. No credit card required.