Spain – Scanning electron microscopes – Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Published on October 13, 2025
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Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas.
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