Switzerland – Scanning electron microscopes – Un microscope électronique à balayage en série

Die EPFL beabsichtigt, ein serielles Block-Face-Rasterelektronenmikroskop anzuschaffen, das für die hochauflösende Abbildung von seriellen Dünnschnitten und die Block-Face-Rasterelektronenmikroskopie (SBF-SEM) konzipiert ist. Das System muss ein leicht abnehmbares Ultramikrotom für automatisierte Serienschnitte und Bildgebung enthalten. Das Mikroskop wird von Forschungsgruppen hauptsächlich im Bereich der Biowissenschaften eingesetzt und am Zentrum für Elektronenmikroskopie (CIME) der EPFL installiert. Mindestanforderungen: Hochauflösendes SEM mit Sekundär- und Rückstreuelektronen-Imaging Niedervakuum-Abbildungsmodus Integriertes In-situ-Ultramikrotom für automatisiertes Schneiden und Abbilden von Blockflächen Automatisierte Serienbildgebung und Datenerfassung für 3D-Rekonstruktion Fortschrittliche Ladungsminderungstechniken zur Minimierung von Bildverzerrungen bei schlecht leitenden Proben Benutzerfreundliche Software für die Bildausrichtung, -verarbeitung und -analyse