France – Microelectronic machinery and apparatus – Fourniture d’un équipement de système de tests sous pointes (prober) dédié aux mesures électriques sur des composants micro-électroniques

La consultation comporte : - L’équipement de base, - Des options : o Option n°1 (à chiffrage obligatoire) : Mode « remote » du prober (cf § 2 du cahier des charges page 7) ; o Option n°2 (à chiffrage facultatif) : Alignement sur un quart de wafer (200mm ou 300mm) (cf §2 du cahier des charges page 6) ; o Option n° 3 (à chiffrage facultatif) : Transformateur d’alimentation (cf § 4.1.4 du cahier des charges page 14) ; o Option n°4 (à chiffrage facultatif) : Transport DAP CEA Grenoble (Selon la convention de la CCI – Incoterms 2020).