Spain – Scanning electron microscopes – Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.
Herausgegeben von Rectorado de la Universidad Complutense de Madrid
Veröffentlicht am 31. Oktober 2025
Tender Description
Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopiade la Universidad Complutense de Madrid, financiado por la Comunidad de Madrid y cofinanciado por la Unión Europea.
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