Spain – Detection and analysis apparatus – Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregida JEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid

Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregidaJEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid, financiado por el Ministeriode Ciencia, Innovación y Universidades, la Agencia Estatal de Investigación y por la Unión Europea ( enmarcado en la actuaciónEQC2024-008160-P financiado por MCIU/ AEI / 10.13039/501100011033 / UE, FEDER) y por la Universidad Complutense de Madrid